- 電壓擊穿試驗(yàn)儀
- 介電常數(shù)
- 電阻率測(cè)試儀
- 粉末電阻率測(cè)試儀
- 導(dǎo)體、半導(dǎo)體電阻率
- 耐電弧測(cè)試儀
- 漏電起痕試驗(yàn)儀
- 電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀
- 橡膠塑料檢測(cè)儀器
- 力學(xué)性能檢測(cè)儀器
- 海綿泡沫材料檢測(cè)儀器
- 受電弓/碳滑板檢測(cè)儀器
- 材料熱物理性能實(shí)驗(yàn)設(shè)備
- 熱物性檢測(cè)儀器
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粉末測(cè)試設(shè)備
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霍爾流速計(jì)
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真密度測(cè)試儀
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斯柯特容量計(jì)
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休止角測(cè)定儀
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粉末壓實(shí)密度儀
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振實(shí)密度測(cè)試儀
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顆粒圖像分析儀
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全自動(dòng)真密度儀
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塑料流動(dòng)性測(cè)定儀
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粉塵安息角測(cè)試儀
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多功能壓力測(cè)量系統(tǒng)
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粉末自然堆積密度儀
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粉體綜合物性測(cè)試儀
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氧化鋁流動(dòng)角測(cè)定儀
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塑料表觀密度測(cè)試儀
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普通磨料堆積密度儀
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白土堆積密度測(cè)定儀
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氧化鋁流動(dòng)時(shí)間測(cè)定儀
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壓實(shí)密度粉末電阻率儀
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陶粒砂體積密度測(cè)定儀
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氧化鋁松裝密度測(cè)定儀
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表面活性劑表觀密度儀
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自由流動(dòng)堆積密度測(cè)定儀
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超硬材料堆積密度測(cè)定儀
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霍爾流速計(jì)
- 比表面測(cè)試儀
- 電池檢測(cè)
- 燃燒性能試驗(yàn)機(jī)
-
焙燒爐試驗(yàn)機(jī)
高壓小電流測(cè)量試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指導(dǎo)
高壓小電流測(cè)量試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指導(dǎo)
火花放電與電弧放電兩個(gè)階段不是截然分開的。在電火花加工中,需要的是火花放電,應(yīng)避免電弧放電,為此,必須掌握這兩種放電的不同特點(diǎn)。
①電弧放電是穩(wěn)定的連續(xù)放電過(guò)程,而火花放電是非穩(wěn)定的放電過(guò)程,火花放電具有明顯的脈沖性質(zhì)。
②電弧放電與火花放電持續(xù)的時(shí)間不同,火花放電持續(xù)時(shí)間短,所產(chǎn)生的熱量來(lái)不及傳入金屬層即被熔化、氣化的金屬帶走了,電極受熱影響小(一般不超過(guò)40℃);而電弧放電持續(xù)時(shí)間長(zhǎng),所產(chǎn)生的熱量有充裕時(shí)間傳播,使電極放電區(qū)金屬熔融(一般達(dá)2500℃左右)。
③電弧放電與火花放電通道形狀不同,電弧放電通道呈圓錐形,且陰極和陽(yáng)極上的電流密度也不同,其陰極為2800A/cm2,陽(yáng)極為300A/cm2;在兩級(jí)上的電蝕斑點(diǎn)大小也不同?;鸹ǚ烹娡ǖ莱使男?,兩級(jí)上的電流密度相同,高達(dá)106~109A/cm2。
④電弧放電與火花放電的擊穿電壓不同,電弧放電擊穿電壓低(4~20V/cm),火花放電擊穿電壓高(≥36Kv/cm)。
⑤電弧放電與火花放電通道中心區(qū)溫度不同,電弧放電通道中心區(qū)溫度為6000~8000℃,而火花放電通道中心區(qū)溫度為10000~12000℃。
⑥電弧放電與火花放電的兩級(jí)電蝕除多;火花放電多數(shù)情況是陽(yáng)極蝕除多,陰極蝕除少,這主要是由放電時(shí)間長(zhǎng)短決定的。陰、陽(yáng)極蝕除量不同的現(xiàn)象,稱為極性效應(yīng)。
高壓小電流測(cè)量試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指導(dǎo)
當(dāng)被試材料內(nèi)部形成導(dǎo)電通道時(shí),認(rèn)為材料已經(jīng)失效。如果電弧引起某一材料的燃燒,和電弧斷電后還在燃燒,則認(rèn)為材料已經(jīng)失效。
耐電弧測(cè)試儀較市場(chǎng)上常見的耐電弧測(cè)試儀存在的優(yōu)勢(shì)
TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù): 耐電弧試驗(yàn)儀采用的光耦隔離方式,同時(shí)配置TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù),對(duì)于電弧放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng),將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。
高壓小電流測(cè)量試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指導(dǎo)
1 多級(jí)循環(huán)采集技術(shù): 華測(cè)自主開發(fā)的多級(jí)循環(huán)電壓采集方式,大大提高目前電弧試驗(yàn)普遍采用手動(dòng)及干擾狀態(tài)下電壓及電流采集方式。
2低通濾波監(jiān)測(cè)技術(shù):
材料耐電弧試驗(yàn)在10-40mA電流下進(jìn)行,強(qiáng)大的電磁干擾不僅影響試驗(yàn)精度,同時(shí)也造成通訊中斷等一系列問(wèn)題。為更好解決這一難 題,華測(cè)將低通濾波技術(shù)在電弧試驗(yàn)儀器運(yùn)用。
3桌面型的外形體積
設(shè)備無(wú)需按照傳統(tǒng)機(jī)型外部需要一臺(tái)電腦,HCDH-4體積更小,操作更人性化,電容性屏幕隨意操作,同時(shí)可以對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存分析,測(cè)試結(jié)果一目了然
5.2友善的使用介面
多語(yǔ)介面:支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面;
即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無(wú)須等待;
圖例管理:通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,易看易懂易了解,立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明,了解測(cè)試狀態(tài);
使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;
故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
高壓小電流測(cè)量試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指導(dǎo)
1) 填寫*高電壓H(必須大于測(cè)試所需要的電壓,*大為17.5KV)例如15KV,L為*低電壓0.9KV(設(shè)備內(nèi)部參數(shù)),過(guò)電流報(bào)警設(shè)置為12A。(該電流為調(diào)壓器和變壓器之間的電流的三倍,起保護(hù)作用,避免非正常情況下電流突然增大對(duì)設(shè)備的損壞)
2) 選擇校準(zhǔn)模式并將紅色高壓端的連接線拔出,使高壓端處于斷開狀態(tài)。
3) 將升壓速度填寫為0.4KV/S
高壓小電流測(cè)量試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指導(dǎo)
4) 點(diǎn)擊校準(zhǔn)開始,此時(shí)電壓逐漸升壓,可以在實(shí)時(shí)電壓觀看實(shí)時(shí)電壓。當(dāng)電壓在設(shè)置的15KV±150V穩(wěn)定3秒后電壓逐漸回零。
可選擇步驟,該步驟設(shè)備出廠前已經(jīng)檢驗(yàn)過(guò)可以不用校準(zhǔn)
電流校準(zhǔn)
5) 將放好試樣的電極串聯(lián)在實(shí)驗(yàn)回路中(可將指針電流串聯(lián)在會(huì)中,電流以觸摸屏上的顯示電流為準(zhǔn),指針電流表起輔助作用),設(shè)置測(cè)試電壓(測(cè)試電壓為實(shí)驗(yàn)時(shí)所需的電壓)當(dāng)調(diào)壓器低限位指示燈亮后。
6) 選擇校準(zhǔn)開始,此時(shí)電壓逐漸升高,當(dāng)升到設(shè)定電壓后升壓到位指示燈會(huì)閃爍此時(shí)證明電壓已經(jīng)升到設(shè)定電壓
7) 點(diǎn)擊10mA校準(zhǔn),觀看高壓側(cè)實(shí)時(shí)電流;電壓處于10mA±0.3mA,如果不是可調(diào)節(jié)滑動(dòng)變阻器R1,滑動(dòng)變阻器向上調(diào)節(jié)為減小電流,向下為增大電流。
8) 一次點(diǎn)擊20mA、30mA、40mA。如果不準(zhǔn)按照10mA調(diào)節(jié)方法調(diào)節(jié)對(duì)應(yīng)滑動(dòng)電阻電阻(20mA對(duì)應(yīng)R2滑動(dòng)電阻、30mA對(duì)應(yīng)R3滑動(dòng)電阻、40mA對(duì)應(yīng)R4滑動(dòng)電阻)
高壓小電流測(cè)量試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指導(dǎo)